Laserlinjefilter är specialiserade bandpassfilter konstruerade för att maximera överföringen av specifika laservåglängder (t.ex. 488nm, 532nm) samtidigt som de blockerar spontan emission, omgivande ljus och strölaserövertoner – avgörande för att bibehålla signalens renhet i högkänsliga applikationer.
| Tillgänglighet: | |
|---|---|
Designade för sömlös integrering med lasrar för vanlig gas (argonjon, helium-neon) och fast tillstånd (Nd:YAG, diod) är dessa filter kärnkomponenter i fluorescensinstrumentering, Raman-spektroskopi och medicinska lasersystem. Till skillnad från bandpassfilter för allmänna ändamål har laserlinjefilter ultrasmala bandbredder och djup blockering för att eliminera interferens från överlappande våglängder, såsom Rayleigh-spridning i Raman-spektroskopi eller excitationsljus-genomströmning vid fluorescensavbildning. Våra filter tillverkas med hjälp av avancerad jonstråleförstoftning (IBS) beläggningsteknik, som säkerställer exceptionell skiktlikformighet, våglängdsstabilitet (±0,5nm över -20°C till +60°C) och långvarig hållbarhet (tålig mot fukt, damm och mekaniskt slitage). Med tillämpningar som sträcker sig från akademisk forskning till industriell kvalitetskontroll, uppfyller de de strikta prestandakraven i ISO 10110 optiska standarder.

Smal bandbredd : Uppnår 1,9 nm typisk bandbredd (FWHM) för att isolera laserlinjer med hög precision. Till exempel sänder ett 532 nm laserlinjefilter med 1,9 nm bandbredd endast 531,05–532,95 nm ljus, vilket blockerar intilliggande våglängder (t.ex. 530 nm eller 534 nm) som kan störa Raman-spridningsmätningar. Bandbreddsalternativen sträcker sig från 1nm (för högupplöst spektroskopi) till 5nm (för bildbehandlingstillämpningar som kräver bredare lasertäckning).
Djup blockering : Ger OD 5–6 blockering (optisk densitet) utanför passbandet, undertrycker våglängder i intervall som 415–483nm och 493–625nm för 488nm laserfilter. OD 5-blockering innebär att endast 0,001 % av oönskat ljus sänds, medan OD 6 blockerar 99,9999 % – kritiskt för lågsignaltillämpningar som fluorescensdetektion av en molekyl, där även spår av omgivande ljus kan skymma resultat.
Hög överföring : Säkerställer >90 % överföring vid mållaservåglängden (t.ex. 92 % överföring vid 785 nm för diodlaserfilter) för minimal effektförlust. Detta uppnås genom optimerade tunnfilmsdesigner (50–100 lager av HfO₂/SiO₂) som minskar reflektion och absorption i passbandet, vilket bevarar laserkraften för provinteraktion (t.ex. laserinducerad nedbrytningsspektroskopi, LIBS).
Lågfluorescerande substrat : Använder N-BK7-glas eller UV-smält kiseldioxidsubstrat med ultralåg autofluorescens (<0,1 % i förhållande till standardglas) för att minska bakgrundsljud. Fused silica-substrat är att föredra för UV-laserlinjer (t.ex. 266nm) eftersom de sänder ner till 185nm, medan N-BK7 är idealisk för synliga/nära-infraröda våglängder (400–2500nm) på grund av dess låga kostnad och höga mekaniska styrka.
Mekanisk stabilitet : Har <3 bågsekunders parallellitet (enligt ISO 10110-5) för att förhindra strålavvikelse i optiska inställningar med hög precision, såsom laserinterferometrar som används för optisk komponentkalibrering. Standardalternativ med 25 mm diameter har snäva dimensionstoleranser (+0,0/-0,1 mm) för att säkerställa kompatibilitet med standardfilterfästen, medan anpassade storlekar (12,5–100 mm) passar specialiserade system (t.ex. storformatlaserskannrar).
Hårda beläggningar : Använder IBS-avsatta beläggningar som är 5–10 gånger hårdare än konventionella förångningsbeläggningar, vilket ger motståndskraft mot miljöförstöring (t.ex. fukt, kemisk exponering) och mekaniskt slitage (t.ex. rengöring med linsväv). Beläggningarna uppfyller MIL-C-48497 standarder för vidhäftning och nötningsbeständighet, vilket säkerställer en livslängd på >5 år under typiska laboratorieförhållanden.
Temperaturstabilitet : Testad enligt MIL-STD-810F-standarder för tillförlitlig prestanda över 15°C till 45°C — det typiska driftsområdet för laboratorie- och industriutrustning. I temperaturcykeltester (-40°C till +85°C, 100 cykler), skiftar passbandets våglängd med <0,3nm, vilket säkerställer konsekvent prestanda i tuffa miljöer (t.ex. industriella tillverkningsanläggningar med varierande temperaturer).
Raman-spektroskopi : Eliminerar Rayleigh-spridning genom att isolera laserexcitationsvåglängden. Till exempel blockerar ett 785 nm laserlinjefilter Rayleighs spridda ljus vid 785 nm (vilket är 10⁶ gånger intensivare än Raman-signaler) samtidigt som det sänder svaga Raman-skiftningar (785±100 nm), vilket möjliggör detektering av molekylära vibrationer (t.ex. CC-bindningar i polymerer).
Fluorescensavbildning : Blockerar excitationsljus samtidigt som den sänder svaga emissionssignaler från fluoroforer. I konfokalmikroskopi reflekterar ett 488nm laserlinjefilter 488nm excitationsljus till provet samtidigt som det sänder 500–550nm emissionsljus (t.ex. GFP-fluorescens), vilket minskar bakgrundsbruset med >100x och förbättrar bildens klarhet.
Laserkirurgi : Säkerställer exakt våglängdsleverans vid oftalmiska och dermatologiska procedurer. Till exempel, vid refraktiv ögonkirurgi (LASIK), blockerar ett 193 nm excimer-laserlinjefilter UV-strålning med längre våglängd (200–250 nm) som kan skada hornhinnan, samtidigt som det överför 193 nm ljus för exakt vävnadsablation.
Lasersvetsning : Kontrollerar strålkvaliteten i materialbearbetningssystem. Ett 1064 nm laserlinjefilter för fiberlasersvetsare blockerar strö 532 nm andra övertonsljus (genererat under svetsning) som kan orsaka ojämn uppvärmning, vilket säkerställer konsekvent svetsdjup (±0,1 mm) i metallkomponenter (t.ex. fordonsväxlar).
Laservägledning : Upprätthåller signalintegriteten i missilstyrning och målinriktningssystem. Militära avståndsmätare använder 1064nm laserlinjefilter för att isolera laserstrålen från omgivande ljus (t.ex. solljus, artificiell belysning), vilket möjliggör noggrann avståndsmätning (±1m vid 10 km räckvidd) under dagtid.
Nanovetenskap : Möjliggör exakta interaktionsstudier mellan laser och material. I atomkraftsmikroskopi (AFM) kombinerat med laserspektroskopi, isolerar ett 532nm laserlinjefilter lasern som används för att detektera fribärande avböjning, vilket säkerställer upplösning i nanometerskala i yttopografimätningar.
F: Vilka laservåglängder stöds?
S: Våra filter är optimerade för vanliga laserlinjer över UV-, synliga och nära-infraröda spektra, inklusive 266 nm (Nd:YAG fjärde överton), 405 nm (violett diod), 488 nm (argonjon), 532 nm (Nd:YAG andra överton), (733 nm), (helium-infran), (733 nm) diod), 808nm (pumpdiod) och 1064nm (Nd:YAG fundamental). Anpassade filter kan utformas för mindre vanliga våglängder (t.ex. 355nm, 980nm) för att passa specialiserade lasrar (t.ex. ultrasnabba Ti:safirlasrar).
F: Vad är optisk densitet (OD) i laserlinjefilter?
A: OD mäter blockeringseffektivitet, beräknat som OD = -log10(T), där T är transmission. Till exempel betyder OD 6 endast 0,0001 % av oönskat ljus som sänds - kritiskt för lågsignaldetektering (t.ex. Raman-spektroskopi, där Raman-signaler är 10⁶–10⁹x svagare än excitationsljus). Våra filter ger OD 5–6-blockering i omedelbar närhet av passbandet (±10–50nm) och OD 3–4-blockering över bredare intervall, vilket säkerställer omfattande störningsdämpning.
F: Kan dessa filter hantera hög lasereffekt?
S: Standardmodeller erbjuder 0,1 J/cm² LIDT @ 532nm, 10ns (laserinducerad skadetröskel), lämplig för lasrar med måttlig effekt (t.ex. 100mW CW-lasrar, 1mJ pulsade lasrar). För högenergiapplikationer (t.ex. 10J/cm² pulserande lasrar, 1kW CW-lasrar), fråga om våra varianter med hög skadetröskel, som använder tjockare substrat (3–5 mm) och förbättrade beläggningar (t.ex. Al₂O₃/SiO₂) för att uppnå 10 LIDT/cm; @ 1064nm, 10ns. Vi erbjuder även antireflexbeläggningar på ingångssidan för att minska energiabsorptionen och förhindra termiska skador.
F: Finns anpassade diametrar tillgängliga?
S: Ja, vi erbjuder alternativ med 12,5–100 mm diameter för att matcha systemkraven. Små diametrar (12,5–25 mm) passar kompakta system (t.ex. handhållna laserspektrometrar), medan stora diametrar (50–100 mm) är designade för lasersystem med hög effekt (t.ex. 1kW fiberlaserskärare) där strålstorleken överstiger standardfilterdimensionerna. Anpassade kvadratiska eller rektangulära former (t.ex. 30×30 mm) finns också tillgängliga för integrerade optiska moduler (t.ex. mikrofluidchip med inbyggd laserdetektering).