אופטיקה אספרית ופורמט מותאם אישית עבור מערכות OEM

עדשות אספריות, אספירות אינפרא אדום, מראות פרבוליות מחוץ לציר ואופטיקה חופשית

Band Optics מייצרת רכיבים אופטיים אספריים וחופשיים בהתאמה אישית להדמיה, אינפרא אדום, לייזר, חישה ומערכות אנליטיות. ניתן לפתח פרויקטים משרטוטי לקוחות, מרשמים אופטיים, נתוני שקיעה, דגמי CAD או דרישות יישום מוגדרות, כאשר מסלול הייצור נבחר סביב גיאומטריית פני השטח, החומר, הפתח ושיטת הבדיקה.
היכולות שלנו מכסות אספירות טרנסמיססיביות, עדשות אספריות אינפרא אדום, מראות פרבוליות מחזירות מחוץ לציר ומשטחים בעלי צורה חופשית ללא סיבוב. בניית אב טיפוס וייצור OEM חוזר יכולים לכלול יצירת CNC, ליטוש מדויק, סיבוב יהלומים במידת הצורך, ציפוי אופטי ובדיקה מימדית או אופטית מול המפרט המאושר.
 

ייצור רכיבים אופטיים מאז 2008

3,500 מ'ר סדנת ייצור אופטי

יכולות CNC, חרטת יהלום, ליטוש ומטרולוגיה

תמיכה באב-טיפוס ותמיכה בייצור OEM חוזר

ייצור אופטיקה אספרית וחופשית עבור מהנדסים וקוני OEM

אופטיקה אספרית וחופשית נותנת למעצבים אופטיים שליטה רבה יותר על סטייה, צורת האלומה ואריזת המערכת מאשר משטחים כדוריים רגילים. Band Optics מייצרת רכיבים אלה משרטוטי לקוחות, מרשמים אופטיים, משוואות פני השטח, טבלאות שקיעה ודרישות יישום. פרויקטים יכולים להתחיל עם אבות טיפוס לאימות אופטית ומכנית ולהמשיך לייצור OEM חוזר לאחר אישור קריטריוני הייצור והבדיקה.


מגוון המוצרים כולל עדשות אספריות סימטריות סיבוביות, אספירות אינפרא אדום, מראות פרבוליות מחוץ לציר ואופטיקה חופשית סימטרית שאינה סיבובית. גיאומטריה, חומר, קוטר או קווי מתאר, עובי מרכז וקצה, צמצם ברור, צורת פני השטח, איכות פני השטח, חספוס, ריכוז וציפוי נבדקים יחד מכיוון שדרישות אלו משפיעות על כלי עבודה, בחירת תהליך ואסטרטגיית מדידה.


רכיבים מיוצרים להדמיה, זיהוי תרמי, אספקת קרן לייזר, ספקטרוסקופיה, חישת תעופה וחלל ומכשירים אנליטיים קומפקטיים. תמיכה הנדסית יכולה לתאם ייצור CNC, ליטוש, חריטת יהלום, ציפוי ומטרולוגיה כך שלרכיב המוגמר יש קשר מוגדר בין המשטח האופטי, הנתונים המכניים ושיטת הקבלה.

yg1

סוגי אופטיקה אספרית וחופשית

בחר את משפחת המוצרים לפי הפונקציה האופטית הנדרשת, אורך הגל, סימטריית פני השטח, אילוצי האריזה ושיטת המדידה. ניתן לייצר כל קטגוריה לפי מרשם המוגדר על ידי הלקוח, כאשר דרישות החומר, הציפוי והבדיקה נבדקות כחלק ממפרט הרכיב המלא.

יישומים של אופטיקה אספרית וחופשית

משטחים אספריים וחופשיים מוגדרים כאשר המערכת האופטית זקוקה לשליטה גדולה יותר בסטייה, פחות אלמנטים, חבילה קצרה יותר, איסוף אור משופר או חלוקת פלט לא אחידה. הגיאומטריה הסופית והסובלנות חייבות להיות קשורות לאורך הגל, השדה, הצמצם והממשק המכני בפועל.
04-אפליקציות-01-מערכות הדמיה מדויקות עדשות אספריות יכולות להפחית סטייה כדורית ולתמוך בהדמיה חדה יותר עם פחות אלמנטים שבירה בראיית מכונה, מכשירים מדעיים ואנליטיים.

מערכות הדמיה מדויקות

04-applications-02-infrared-imaging-detection אספירות אינפרא-אדומות ממקדות או מאגדות קרינה במצלמות תרמיות, מכשירי ניתוח גזים, גלאים ומערכות מעקב. יש להעריך את העברת החומר, התנהגות הטמפרטורה ועמידות הציפוי עבור רצועת הפעולה.

הדמיה ואיתור אינפרא אדום

04-אפליקציות-03-לייזר-מיקוד-קרן-מסירה עדשות אספריות ומראות פרבוליות מחזירות מחוץ לציר יכולות למקד, לאסוף או להעביר קרני לייזר. יש לציין יחד את איכות פני השטח, ביצועי חזית הגל, הציפוי, זווית השפיות ותנאי הלייזר.

מיקוד לייזר ואספקת קרן

04-יישומים-04-עיצוב אלומה-תאורה משטחים בעלי צורה חופשית מפיצים מחדש את האור כדי לייצר תבנית קרינה מוגדרת, אי אחידות מקור נכונה או הארה ישירה לשדה אסימטרי. מקור הקלט והתפלגות היעד הם חלק ממפרט השטח.

עיצוב קרן והארה

Aspheres & Freeforms1 רכיבים רפלקטיביים מחוץ לציר יכולים למקד או לרכז פסים ספקטרליים רחבים ללא שינוי מוקד כרומטי, ספקטרומטרים תומכים, אינטרפרומטרים ונתיבים אופטיים אנליטיים.

ספקטרוסקופיה ומכשירי פס רחב

04-אפליקציות-06-תעופה וחלל-חישה מרחוק רכיבים אספריים קומפקטיים, מחוץ לציר ורכיבים חופשיים תומכים בארכיטקטורות של הדמיה מקופלת, סריקה וחישה שבהן יש להתחשב ברגישות המסה, המעטפת והיישור ברמת המערכת.

תעופה וחלל חישה מרחוק

יכולות ייצור אספריות וחופשיות מדויקות

מסלול הייצור נבחר לפי גיאומטריית פני השטח, מצע, צמצם, יציאה ממשטח הבסיס, גימור נדרש, ציפוי וכמות. אספרת זכוכית טרנסמיססיבית, עדשה שהופכת יהלום אינפרא אדום ורכיב רפלקטיבי מחוץ לציר עשויים לדרוש אסטרטגיות כלים ובדיקה שונות.

יצירת משטח CNC

השחזה והעיבוד שבבי CNC מבססים את הפרופיל האספרי, מחוץ לציר או הצורה החופשית, תוך שמירה על ההפרשה לפעולות הגימור הבאות.

ליטוש אופטי מדויק

ליטוש מסיר נזקים תת-קרקעיים ומעדן את צורת פני השטח וחספוס באמצעות תנאי כלי עבודה ותהליכים המותאמים לחומר ולשיפוע המשטח המקומי.

חרטת יהלום חד נקודתית

ניתן להעריך את פניית יהלום עבור חומרים אינפרא אדום תואמים ומצעים רפלקטיביים כאשר הגיאומטריה, הגימור, הכמות ודרישות הציפוי במורד הזרם מתאימות לתהליך.

מתקן וליטוש MRF

ניתן לשלב ליטוש מתקן או MRF כאשר מפת השגיאות והמצע הנמדדים תומכים בשלב מבוקר של הסרת חומרים.

מרכוז, שולי ודאטומים מכניים

קטרים ​​מוגמרים, שיפועים, תכונות הרכבה ומשטחי ייחוס מעובדים ביחס למשטח האופטי כך שניתן למקם ולבדוק את הרכיב באופן עקבי.

שילוב ציפוי אופטי

ציפוי מגן AR, פס רחב, לייזר, רפלקטיבי או אינפרא אדום מתואמים עם מצע, שיפועים פני השטח, צמצם ברור, זווית פגיעה ודרישות סביבתיות.

מפרט אופטי אספרי וחופשי בהתאמה אישית

הטבלה שלהלן מציגה יכולות ייצור והתאמה אישית של Band Optics עבור Aspheres & Freeforms. ערכים הם הפניות ליכולת להערכה מול לקוח, לא רשימה של שדות שהלקוח חייב למלא.

יכולות טכניות של BAND OPTICS
פריט יכולת טווח ייצור אופטיקה של להקות פריט יכולת טווח ייצור אופטיקה של להקות
סוגי מוצרים עדשות אספריות, עדשות אספריות אינפרא אדום, מראות פרבוליות מחוץ לציר ואופטיקה בצורת צורה חופשית איכות פני השטח דוגמה אספרית מתועדת 20-10 שריטה-חפירה או יותר
הגדרות משטח מקובלות רדיוס בסיס וקבוע חרוטי, מקדמים פולינומיים, טבלת שקיעה, מודל CAD, נתוני נקודות, הגדרת פרבולואיד אב והגדרה מחוץ לציר חספוס פני השטח דוגמה אספרית מתועדת Rq <1 ננומטר
חומרים מעבירים זכוכית אופטית, סיליקה מתמזגת, ZnSe, ZnS, סיליקון ו-CaF2 בקרת גיאומטריה עובי מרכז וקצה, שיפוע מקומי, סטיית פני השטח, צמצם ברור ונתונים מכניים
מצעים רפלקטיביים זרודור, אלומיניום ומצעים מאושרים הנדסיים נוספים תהליכי ייצור יצירת CNC, ליטוש מדויק, ליטוש יהלומים תואם וליטוש מתקן/MRF
קוטר / מתאר פתחים עגולים ולא עגולים בהתאמה אישית המיוצרים לפי שרטוטים מאושרים מרכוז / שולים קוטר מוגמר, שיפועים ומשטחי ייחוס נשלטים ביחס למשטח האופטי
עוֹבִי 1-80 מ'מ לערך עבור הפניות מתועדות של עדשות אספריות יכולת ציפוי AR, BBAR, ציפוי V, HR, השתקפות מתכתית ודיאלקטרית, בתוספת ציפוי מגן IR נבחרים
צמצם ברור כ-85%-100% בדוגמאות מתועדות יכולת בדיקה פרופילומטריה, אינטרפרומטריה מתאימה/CGH, טופוגרפיה תלת מימדית, חספוס, ריכוז, בדיקה מימדית וספקטרלית
טופס פני השטח דוגמאות מתועדות כוללות PV < λ/4 ו-RMS < λ/20 תמיכה בייצור אב טיפוס, פיילוט וייצור OEM חוזר
הערת יכולת:

השילובים הזמינים תלויים בחומר, גיאומטריה, מידות, דיוק, ציפוי ודרישות בדיקה. מפרטים סופיים מאושרים באמצעות סקירה הנדסית.

חומרים אופטיים לאספרות ולצורות חופשיות

בחירת החומר משפיעה על שידור ספקטרלי, מקדם השבירה, פיזור, התנהגות תרמית, צפיפות, גימור בר השגה, בלאי כלי עבודה ותאימות ציפוי. ייתכן שיהיה צורך לחשב מחדש את מרשם פני השטח אם החומר משתנה, לכן יש לבדוק תחליפים מול העיצוב האופטי ולא מול טווח השידור בלבד.

06-חומרים-01-אופטי-זכוכית

זכוכית אופטית

משקפיים אופטיות מספקות מגוון רחב של אפשרויות מקדם שבירה ופיזור עבור עדשות אספריות גלויות וכמעט אינפרא אדום המשמשות בהדמיה ומכשור.

06-חומרים-02-מסודים-סיליקה

סיליקה ממוזגת

סיליקה ממוזגת נחשבת ליישומי אולטרה סגול, גלוי, קרוב לאינפרא אדום ולייזר הדורשים התפשטות תרמית נמוכה והומוגניות אופטית טובה.

06-חומרים-03-אבץ-סלניד

אבץ סלניד

ZnSe תומך בשידור אינפרא אדום ומשמש ליישומי הדמיה תרמית, לייזר CO2 וחישה נבחרים, בכפוף לדרישות הגיאומטריה, הטיפול והציפוי.

06-חומרים-04-אבץ-סולפיד

אבץ גופרתי

ZnS יכול לתמוך בעיצובים אופטיים גלויים לאינפרא אדום או אינפרא אדום בהתאם לדרגה. יש להגדיר דרג, טווח אורכי גל וחשיפה סביבתית לפני הייצור.

06-חומרים-05-סיליקון

סִילִיקוֹן

תיאור: סיליקון משמש לרכיבים אספריים קרובים ובינוניים של אינפרא אדום נבחרים ותואם לנתיבי עיבוד וציפוי מדויקים מתאימים.

06-חומרים-06-סידן-פלואוריד

סידן פלואוריד

CaF2 מספק שידור אולטרה סגול ואינפרא אדום עם פיזור נמוך, בעוד שהמאפיינים המכניים והתרמיים שלו דורשים טיפול ותכנון תהליכים מתאימים.

06-חומרים-07-רפלקטיביים-מצעים

מצעים רפלקטיביים

ניתן להעריך את Zerodur, אלומיניום ומצעים מאושרים אחרים עבור מראות פרבוליות מחוץ לציר ורכיבי צורה חופשית מחזירי אור בהתאם לדרישות התרמיות, המסה, הגימור והציפוי.

ציפוי אופטי לרכיבים אספריים וחופשיים

יש להתאים את ביצועי הציפוי למצע, אורך הגל ההפעלה, גיאומטריית פני השטח, זווית הפגיעה, הקיטוב ותנאי הסביבה. משטחים מעוקלים ובעלי צורה חופשית עשויים להציג פיזור רחב יותר של זוויות נפילה מקומיות מאשר רכיבים שטוחים, ולכן דרישות הציפוי צריכות לשקף את העיצוב האופטי בפועל.

  • ציפויים אנטי-רפלקטיביים
    ציפוי AR חד-שכבתי או רב-שכבתי מפחית השתקפות ממשטחים אספריים טרנסמיססיביים בטווח אורכי גל ומצב שכיחות מוגדרים.
  • ציפוי AR בפס רחב
    עיצובי AR בפס רחב תומכים במערכות הדמיה, חישה ואנליטיות הפועלות על פני מרווח ספקטרלי רחב יותר. הביצועים מאושרים עבור המצע וגיאומטריית פני השטח שנבחרו.
  • ציפוי V בלייזר
    ציפוי V מספקים השתקפות נמוכה ליד אורך גל לייזר מוגדר. המפרט צריך לכלול אורך גל, AOI, קיטוב ותנאי לייזר ישימים.
  • ציפויים מחזירי אור מתכתיים
    ניתן לשקול מערכות ציפוי אלומיניום, כסף או זהב עבור רכיבים פרבוליים וחופשיים רפלקטיביים מחוץ לציר לפי אורך גל, עמידות וחשיפה סביבתית.
  • ציפוי מגן דיאלקטרי ואינפרא אדום
    תיאור: ניתן להעריך ציפויים דיאלקטריים בעלי רפלקציה גבוהה, ציפוי BBAR אינפרא אדום ואפשרויות הגנה כגון DLC כאשר המצע וסביבת ההפעלה תומכים בתכנון.

תהליך ייצור אופטיקה אספרית וחופשית

מסלול התהליך משוחרר רק לאחר שנבדקו יחדיו המרשם האופטי, השרטוט המכני, החומר, הציפוי ותוכנית הבדיקה. שלבי התהליך משתנים לפי המצע והגיאומטריה, אך הרצף הבא מספק מסגרת פרויקט טיפוסית.

01

ציור וסקירת מרשם

הנדסה בודקת את המשוואה, הנתונים, החומר, הצמצם, הטלרנסים, הציפוי, הכמות ושיטת הקבלה ופותרת דרישות חסרות או סותרות.

02

הכנת חומר וריק

החומר המאושר מוכן תוך התחשבות במשטח האופטי, קווי המתאר המוגמרים, העובי, תכונות ההרכבה והטיפול.

03

יצירת משטחים

השחזה, עיבוד שבבי או חריטת יהלום ב-CNC מבססים את הפרופיל המקדים ומשאירים את ההפרשה המבוקרת הנדרשת לגימור.

04

גריסה עדינה וליטוש מדויק

המשטח מעודן כדי להפחית נזקים תת-קרקעיים ולהתקרב לצורה הנדרשת, לגימור ולפתח שמיש.

05

מטרולוגיה ותיקון ביניים

נתוני פרופיל מדוד או מפת שגיאות מושווים עם המרשם המאושר, ועיבוד מתקן מיושם כאשר החומר והפצת השגיאות תומכים בכך.

06

שולי ותכונות מכניות

קוטר, קווי מתאר, שיפועים ותכונות ייחוס הושלמו ביחס למשטח האופטי ולנתונים שצוינו.

07

ציפוי אופטי

רכיבים מנוקים מקבלים את הציפוי המשדר, המחזיר אור או המגן המאושר עם מיסוך ובקרת מתקנים מתאימים.

08

בדיקה ותיעוד סופית

מידות, צורת פני השטח, חספוס, איכות פני השטח, ריכוז וביצועי ציפוי מאומתים לפי התוכנית המוסכמת לפני השחרור.

מטרולוגיה ובקרת איכות אספרית וחופשית

משטחים אופטיים מורכבים דורשים שיטות מדידה התואמות את הגיאומטריה, הצמצם, השיפוע והסבילות שלהם. תכנון הבדיקה מתחיל במהלך סקירת השרטוט כך שהרכיב המוגמר ודוח הקבלה משתמשים באותה מערכת קואורדינטות והגדרת משטח.

מדידת פרופיל וטפסים

יכולות פרופילומטריה של Taylor Hobson LuphoScan 260 HD ו-Mahr LD 260 יכולות לתמוך במדידת פרופיל או צורת פני השטח עבור גיאומטריות מתאימות של רכיבים.

בדיקה אינטרפרומטרית עם CGH

ניתן להשתמש בהתערבות ZYGO עם תצורת CGH או בדיקה מתאימה עבור משטחים אספריים מוסמכים כאשר הגיאומטריה והצמצם תומכים בהגדרה.

טופוגרפיה וחספוס פני השטח

ניתן לבצע מדידות משטח תלת מימדיות ללא מגע והערכת חספוס עם מטרולוגיה אופטית מתאימה, עם אזור הסריקה ותנאי הסינון המוגדרים בדוח.

ריכוז ואימות תאריך

יחסי ציר אופטי או משטח מוערכים מול הקוטר המכני המוגמר, משטח הייחוס או נתון ההרכבה המצוינים בשרטוט.
 
 

בדיקת מימד

קוטר או קווי מתאר, עובי, גיאומטריית קצה, שיפועים, מיקומי חורים ומאפיינים מכניים אחרים נבדקים מול השרטוט המאושר.
 
 
 

בדיקת איכות פני השטח

שריטות, חפירות, בורות, פגמי קצוות, פגמי ציפוי וזיהום מוערכים בהתאם לתקן הקוסמטי הנקוב ולצמצם ברור.
 
 
 

אימות ציפוי ותיעוד

ניתן למדוד שידור או השתקפות על פני הטווח הספקטרלי המוסכם, כאשר דוחות ממדים, נתוני פרופיל, אינטרפרוגרמות או עקומות ציפוי מסופקים כאשר הם כלולים בדרישות הפרויקט.

ייצור אספרי וחופשי על ידי Band Optics

Band Optics תומכת ברכיבים אופטיים מורכבים המותאמים להדפסה מבדיקה טכנית ראשונית דרך ייצור אב טיפוס, ציפוי, בדיקה וייצור OEM חוזר. ההתמקדות היא בחיבור המשטח האופטי המוגדר על ידי הלקוח עם תהליך מעשי ושיטת קבלה שניתן לחזור עליה.

ייצור ממרשמים של לקוחות

משוואות פני השטח, נתוני שקיעה, גיאומטריית CAD, נתונים וסובלנות נסקרים כמפרט מבוקר אחד לפני שחרור הייצור.

אפשרויות תהליך מרובות

ניתן להעריך ייצור CNC, השחזה, ליטוש, MRF וחיתוך יהלום לפי מצע, גיאומטריה, גימור פני השטח וכמות.
 

תיאום חומרים וציפוי

התנהגות החומר, אורך הגל, זווית השפיות המקומית ודרישות הסביבה נלקחות בחשבון בעת ​​בחירת מסלול הגימור והציפוי.
 

אב טיפוס ותמיכה בייצור חוזר

בניית אב טיפוס קובעת כלי עבודה, מתקנים, הגדרות תהליך ושיטות בדיקה שניתן לשמור עבור פיילוט או הזמנות OEM חוזרות.
 

תכנון מטרולוגיה משולב

מדידת פרופיל, אינטרפרומטריה, בדיקת חספוס, ריכוז, בדיקת מימד ואימות ספקטרלי מתואמים עם קריטריוני הקבלה המבוקרים בציור.

רכיבים אופטיים מותאמים אישית קשורים

רכיבים אספריים וחופשיים יכולים להיות מסופקים לצד אופטיקה אחרת להדפסה המשמשת באותה מערכת הדמיה, לייזר, חישה או אנליטית. תיאום מצע, ציפוי, צמצם ונתונים מכניים על פני חלקים קשורים יכול לפשט את תקשורת התכנון וניהול הספקים.

עדשות אופטיות מותאמות אישית

עדשות כדוריות, גליליות, אכרומטיות ועדשות כדוריות מספקות מיקוד קונבנציונלי, בקרת קרן חד-ציר, תיקון כרומטי וצימוד אופטי קומפקטי.

חלונות אופטיים

חלונות שטוחים, דחוסים, מגנים ואינפרא אדום מגנים על חיישנים או מכלולים תוך שמירה על שידור על פני הטווח הספקטרלי הנדרש.

מראות אופטיות

מראות שטוחות, קעורות, קמורות ובצורה מותאמת אישית מפנים או ממקדות את האור באמצעות ציפויים מחזירי אור מתכתיים או דיאלקטריים שנבחרו עבור רצועת הפעולה.
 

מנסרות אופטיות

הדמיה, פיזור, היגוי והומוגנית מנסרות שולטות בכיוון האלומה, כיוון התמונה, הפרדה ספקטרלית או חלוקת הארה.
 

מכלולים אופטיים מותאמים אישית

אופטיקה מותקנת ומכלולים מרובי אלמנטים משלבים רכיבים בתוך ממשק מכני מוגדר ויכולים לכלול דרישות יישור ובדיקה פונקציונלית.

שאלות נפוצות לגבי עדשות אופטיות מותאמות אישית

  • ש אילו סוגי אופטיקה אספרית וחופשית מייצרת Band Optics?

    A Band Optics מייצרת עדשות אספריות סימטריות סיבוביות, אספירות אינפרא אדום, מראות פרבוליות מחוץ לציר ורכיבים אופטיים בעלי צורה חופשית ללא סיבוב. מסלול הייצור הזמין תלוי בגיאומטריית פני השטח, בחומר, בצמצם, בגימור, בציפוי ובדרישות הבדיקה.
  • ש איזה מידע נדרש כדי לצטט אופטיקה אספרית מותאמת אישית?

    א  ספק את השרטוט ואת מרשם המשטח, כולל יחידות, רדיוס בסיס, קבוע חרוטי, מקדמים פולינומיים או נתוני שקיעה, חומר, קוטר או מתאר, עובי, צמצם ברור, צורת פני השטח, איכות פני השטח, חספוס, ציפוי, כמות ושיטת קבלה.
  • ש האם אתה יכול לייצר מדגם CAD או משולחן צניחת?

    ניתן לעיין בגיאומטריית CAD, טבלאות שקיעה ונתוני נקודות לצד השרטוט המבוקר. יש לזהות בבירור את מקור הקואורדינטות, כיוון הציר, היחידות, מוסכמות הסימנים, הנתונים והמסמך השולט בקבלה.
  • ש אילו חומרים זמינים עבור עדשות אספריות אינפרא אדום?

    אפשרויות המפורטות במדריך כוללות ZnSe, ZnS, סיליקון ו-CaF2, יחד עם זכוכית אופטית וסיליקה מותכת לדרישות ספקטרליות אחרות. בחירת החומר תלויה באורך גל, תנאים תרמיים, גיאומטריה, גימור ותאימות ציפוי.
  • Q האם Band Optics יכולה לייצר מראות פרבוליות מחוץ לציר?

    ת: כן, מראות פרבוליות מחוץ לציר כלולות ביכולות המוצר המוצהרות של החברה. הצעת מחיר צריכה להגדיר את אורך מוקד האב, מרחק או זווית מחוץ לציר, צמצם, מצע, דרישות פני השטח, ציפוי ונתונים מכניים.
  • ש: כיצד נבדקים משטחים אספריים וחופשיים?

    בדיקה עשויה להשתמש במדידת פרופיל, התערבות עם CGH או מערך בדיקה מתאים, טופוגרפיה משטח ללא מגע, מדידת חספוס ובדיקת מימד או ריכוז. השיטה הסופית חייבת להתאים לגיאומטריית הרכיב ולשרטוט.
  • ש האם אתה יכול לתמוך באבות טיפוס לפני ייצור חוזר?

    א כן. אב טיפוס יכול לקבוע את כלי העבודה, המתקנים, תוואי התהליך, שיטת הציפוי והגדרת הבדיקה. לאחר אישור קריטריוני המרשם והקבלה, אותו מידע מבוקר יכול לתמוך בייצור פיילוט וייצור OEM חוזר.
  • ש מה קובע את הסבילות הניתנות להשגה ואת גודל הרכיבים?

    גודל וסובלנות הניתנים להשגה תלויים בחומר, צמצם, יציאת פני השטח, שיפוע מקומי, עובי, גיאומטריית קצה, ציפוי וגישה למדידה. מכיוון שמקורות רשמיים של Band Optics מציגים כיום טווחי קוטר אספריים שונים, יש לאשר את הגודל הנדרש באמצעות סקירה הנדסית במקום להסתמך על מגבלה אוניברסלית אחת.

שלח את דרישות האופטיקה האספרית או החופשית שלך

ספר לנו אילו אספירות ופורמים חופשיים אתה צריך וכיצד נוכל ליצור איתך קשר. 

מידע שיש לכלול:

סוג רכיב, חומר, משוואת פני השטח, נתוני שקיעה או מודל CAD, קוטר או מתאר, עובי, אורך גל, צורת פני השטח, חספוס, ציפוי, כמות ודרישות בדיקה.

אם קיימת דרישה לשרטוט, מרשם או בדיקה, ציינו זאת בדרישות. Band Optics תעקוב בדוא'ל כדי להשיג את הקובץ ולאשר את יכולת הייצור.
יש לנו צוות מיומן מאוד שממשיך לעצב מוצרים חדשים חדשניים וכן ליצור פתרונות חסכוניים כדי לעמוד במפרטים, בלוחות זמנים ותקציבים.
פרטי יצירת קשר
טל': +86-159-5177-5819
אֶלֶקטרוֹנִי:  sales@nj-optics.com
כתובת: פארק התעשייה, מס' 52 Tianyuan East Ave. Nanjing City, 211100, סין

קישורים מהירים

קטגוריית מוצרים

הירשם לניוזלטר שלנו
מבצעים, מוצרים חדשים ומכירות. ישירות לתיבת הדואר הנכנס שלך.
זכויות יוצרים © 2025 Band Optics Co., Ltd.כל הזכויות שמורות | מפת אתר  |   מדיניות פרטיות