optiese komponente en lensverskaffer
E-pos
naby
Kies jou webwerf
Wêreldwyd
Sosiale media

Pasgemaakte asferiese en vryvorm-optika vir OEM-stelsels

Asferiese lense, infrarooi asfere, off-as paraboliese spieëls en vryvormoptika

Band Optics vervaardig persoonlike asferiese en vryvorm optiese komponente vir beelding, infrarooi, laser, waarneming en analitiese stelsels. Projekte kan ontwikkel word vanaf klanttekeninge, optiese voorskrifte, sakdata, CAD-modelle of gedefinieerde toepassingsvereistes, met die vervaardigingsroete wat rondom die oppervlakgeometrie, materiaal, opening en inspeksiemetode gekies word.
Ons vermoëns dek deurlaatbare asfere, infrarooi asferiese lense, reflektiewe off-as paraboliese spieëls en nie-rotasie-simmetriese vryvorm-oppervlaktes. Prototipe-bou en herhaal OEM-produksie kan CNC-generering, presisiepolering, diamantdraai, waar toepaslik, optiese deklaag en dimensionele of optiese inspeksie teen die goedgekeurde spesifikasie insluit.
 

Optiese komponentvervaardiging sedert 2008

3 500 m² Optiese Produksie Werkswinkel

CNC, diamantdraai, poleer en metrologie vermoëns

Prototipe en herhaal OEM-produksieondersteuning

Asferiese en vryvorm-optikavervaardiging vir ingenieurs en OEM-kopers

Asferiese en vryvormoptika gee optiese ontwerpers meer beheer oor aberrasie, balkvorm en stelselverpakking as konvensionele sferiese oppervlaktes. Band Optics vervaardig hierdie komponente uit klanttekeninge, optiese voorskrifte, oppervlakvergelykings, saktabelle en toepassingsvereistes. Projekte kan begin met prototipes vir optiese en meganiese verifikasie en voortgaan met herhaalde OEM-produksie nadat die vervaardigings- en inspeksiekriteria goedgekeur is.


Die produkreeks sluit rotasie-simmetriese asferiese lense, infrarooi-asfere, off-as-paraboliese spieëls en nie-rotasie-simmetriese vryvormoptika in. Meetkunde, materiaal, deursnee of buitelyn, middel- en randdikte, duidelike opening, oppervlakvorm, oppervlakkwaliteit, grofheid, sentrasie en bedekking word saam hersien omdat hierdie vereistes gereedskap, proseskeuse en metingstrategie beïnvloed.


Komponente word vervaardig vir beeldvorming, termiese opsporing, laserstraallewering, spektroskopie, lugvaartwaarneming en kompakte analitiese instrumente. Ingenieursondersteuning kan CNC-generering, polering, diamantdraai, coating en metrologie koördineer sodat die voltooide komponent 'n gedefinieerde verhouding het tussen die optiese oppervlak, meganiese datums en aanvaardingsmetode.

yg1

Asferiese en vryvorm optiese tipes

Kies die produkfamilie volgens die vereiste optiese funksie, golflengte, oppervlaksimmetrie, verpakkingsbeperkings en meetmetode. Elke kategorie kan vervaardig word volgens 'n kliënt-gedefinieerde voorskrif, met materiaal, coating en inspeksie vereistes hersien as deel van die volledige komponent spesifikasie.

Toepassings van asferiese en vryvormoptika

Asferiese en vryvorm-oppervlaktes word gespesifiseer wanneer die optiese stelsel groter aberrasiebeheer, minder elemente, 'n korter pakket, verbeterde ligversameling of 'n nie-eenvormige uitsetverspreiding benodig. Finale meetkunde en toleransies moet gekoppel word aan die werklike golflengte, veld, diafragma en meganiese koppelvlak.
04-toepassings-01-presisie-beeldingstelsels Asferiese lense kan sferiese aberrasie verminder en skerper beeldvorming ondersteun met minder refraktiewe elemente in masjienvisie, wetenskaplike en analitiese instrumente.

Presisiebeeldingstelsels

04-toepassings-02-infrarooi-beeldvorming-opsporing Infrarooi-asfere fokus of kollimeer bestraling in termiese kameras, gas-analise-instrumente, detektors en toesigstelsels. Materiaaloordrag, temperatuurgedrag en laagduursaamheid moet vir die bedryfsband geëvalueer word.

Infrarooi beelding en opsporing

04-toepassings-03-laser-fokus-straal-aflewering Asferiese lense en reflektiewe off-as paraboliese spieëls kan laserstrale fokus, kollimeer of herlei. Oppervlakkwaliteit, golffrontprestasie, bedekking, invalshoek en lasertoestande moet saam gespesifiseer word.

Laserfokusering en straalaflewering

04-toepassings-04-straalvorming-beligting Vryvorm-oppervlaktes herverdeel lig om 'n gedefinieerde bestralingspatroon, korrekte bron-nie-uniformiteit of direkte beligting in 'n asimmetriese veld te produseer. Die insetbron en teikenverspreiding is deel van die oppervlakspesifikasie.

Straalvorming en beligting

Asfere en vrye vorms1 Af-as-reflektiewe komponente kan breë spektrale bande fokus of kollimeer sonder chromatiese fokusverskuiwing, ondersteunende spektrometers, interferometers en analitiese optiese paaie.

Spektroskopie en breëbandinstrumente

04-toepassings-06-lugvaart-afstandswaarneming Kompakte asferiese, af-as- en vryvormkomponente ondersteun gevoude beeld-, skanderings- en waarnemingsargitekture waar massa-, omhulsel- en belyningssensitiwiteit op stelselvlak in ag geneem moet word.

Lugvaart en afstandwaarneming

Presisie asferiese en vryvorm-vervaardigingsvermoëns

Die vervaardigingsroete word gekies volgens oppervlakgeometrie, substraat, opening, afwyking van die basisoppervlak, vereiste afwerking, laag en hoeveelheid. 'n Deurlaatbare glasasfeer, 'n infrarooi diamant-gedraaide lens en 'n reflektiewe af-as-komponent kan verskillende gereedskap- en inspeksiestrategieë vereis.
Pasgemaak 1

CNC-oppervlakgenerasie

CNC-slyp en -bewerking stel die voorlopige asferiese, af-as- of vryvormprofiel vas, terwyl toelae vir daaropvolgende afwerking behou word.

Presisie optiese polering

Poleer verwyder ondergrondse skade en verfyn oppervlakvorm en grofheid deur gebruik te maak van gereedskap en prosestoestande wat ooreenstem met die materiaal en plaaslike oppervlakhelling.

Enkelpunt diamantdraai

Diamantdraai kan geëvalueer word vir versoenbare infrarooi materiale en reflektiewe substrate wanneer die geometrie, afwerking, hoeveelheid en stroomafbedekkingsvereistes die proses pas.

Korrektiewe en MRF Polering

Korrektiewe polering of MRF kan ingewerk word wanneer die gemete foutkaart en substraat 'n beheerde materiaalverwyderingsstap ondersteun.

Sentrering, rand en meganiese datums

Afgewerkte diameters, skuins, monteerkenmerke en verwysingsoppervlaktes word in verhouding tot die optiese oppervlak verwerk sodat die komponent konsekwent geposisioneer en geïnspekteer kan word.

Optiese Bedekking Integrasie

AR, breëband, laser, reflektiewe of infrarooi beskermende bedekkings word gekoördineer met substraat, oppervlakhellings, duidelike diafragma, invalshoek en omgewingsvereistes.
Pasgemaak 2

Pasgemaakte asferiese en vryvorm optiese spesifikasies

Die tabel hieronder bied Band Optics-vervaardigings- en aanpassingsvermoëns vir Aspheres & Freeforms aan. Waardes is vermoëverwysings vir kliëntgerigte evaluering, nie 'n lys van velde wat die kliënt moet voltooi nie.
BAND OPTIKA TEGNIESE VERMOËS
Vermoë item Band Optics Manufacturing Range Vermoë item Band Optics Manufacturing Range
Produk Tipes Asferiese lense, infrarooi asferiese lense, af-as paraboliese spieëls en vryvormoptika Oppervlakkwaliteit Gedokumenteerde asferiese voorbeeld 20-10 krap-grawe of beter
Oppervlakdefinisies aanvaar Basisradius en kegelkonstante, polinoomkoëffisiënte, insaktabel, CAD-model, puntdata, ouerparaboloïed en af-as-definisie Oppervlakruwheid Gedokumenteerde asferiese voorbeeld Rq <1 nm
Oordraagbare materiale Optiese glas, saamgesmelte silika, ZnSe, ZnS, silikon en CaF2 Meetkunde beheer Middel- en randdikte, plaaslike helling, oppervlakafwyking, duidelike opening en meganiese datums
Reflektiewe substrate Zerodur, aluminium en ander ingenieursgoedgekeurde substrate Vervaardigingsprosesse CNC generasie, presisie polering, versoenbare diamantdraai en korrektiewe/MRF polering
Deursnee / buitelyn Pasgemaakte ronde en nie-ronde openinge vervaardig volgens goedgekeurde tekeninge Sentrering / Rand Voltooide deursnee, skuins en verwysingsoppervlaktes word beheer relatief tot die optiese oppervlak
Dikte Ongeveer 1-80 mm vir gedokumenteerde asferiese lensverwysings Bedekkingsvermoë AR, BBAR, V-bedekking, HR, metaal- en diëlektriese refleksie, plus geselekteerde IR-beskermende bedekkings
Duidelike diafragma Ongeveer 85%-100% in gedokumenteerde voorbeelde Inspeksie vermoë Profilometrie, geskikte interferometrie/CGH, 3D-topografie, grofheid, sentrasie, dimensionele en spektrale inspeksie
Oppervlaktevorm Gedokumenteerde voorbeelde sluit in PV < λ/4 en RMS < λ/20 Produksie Ondersteuning Prototipe, loods en herhaal OEM-produksie
KENNISGEWING:

Beskikbare kombinasies hang af van materiaal, geometrie, afmetings, akkuraatheid, bedekking en inspeksievereistes. Finale spesifikasies word deur ingenieursoorsig bevestig.

Optiese materiale vir asfere en vrye vorms

Materiaalkeuse beïnvloed spektrale transmissie, brekingsindeks, verspreiding, termiese gedrag, digtheid, haalbare afwerking, gereedskapslytasie en bedekkingversoenbaarheid. Die oppervlakvoorskrif moet dalk herbereken word as die materiaal verander, dus vervangings moet hersien word teen die optiese ontwerp eerder as transmissiereeks alleen.

06-materiale-01-optiese-glas

Optiese glas

Optiese bril bied 'n wye reeks brekingsindeks- en verspreidingsopsies vir sigbare en naby-infrarooi asferiese lense wat in beelding en instrumentasie gebruik word.

06-materiale-02-gesmelte-silika

Gesmelte Silika

Gesmelte silika word oorweeg vir ultraviolet, sigbare, naby-infrarooi en lasertoepassings wat lae termiese uitsetting en goeie optiese homogeniteit vereis.

06-materiale-03-sink-selenied

Sink Selenide

ZnSe ondersteun infrarooi transmissie en word gebruik vir geselekteerde termiese beelding, CO2 laser en waarneming toepassings, onderhewig aan meetkunde, hantering en coating vereistes.

06-materiale-04-sinksulfied

Sinksulfied

ZnS kan sigbare-tot-infrarooi of infrarooi optiese ontwerpe ondersteun, afhangende van graad. Graad, golflengtereeks en omgewingsblootstelling moet voor vervaardiging gedefinieer word.

06-materiale-05-silikon

Silikon

Beskrywing: Silikon word gebruik vir geselekteerde naby- en middel-infrarooi asferiese komponente en is versoenbaar met geskikte presisie bewerking en bedekkingsroetes.

06-materiale-06-kalsiumfluoried

Kalsiumfluoried ​

CaF2 verskaf ultraviolet en infrarooi transmissie met lae verspreiding, terwyl sy meganiese en termiese eienskappe toepaslike hantering en prosesbeplanning vereis.

06-materiale-07-reflektiewe-substrate

Reflektiewe substrate

Zerodur, aluminium en ander goedgekeurde substrate kan geëvalueer word vir off-as paraboliese spieëls en reflektiewe vryvorm komponente volgens termiese, massa, afwerking en coating vereistes.

Optiese bedekkings vir asferiese en vryvormkomponente

Deklaagprestasie moet ooreenstem met die substraat, bedryfsgolflengte, oppervlakgeometrie, invalshoek, polarisasie en omgewingstoestande. Geboë en vryvorm-oppervlaktes kan 'n wyer verspreiding van plaaslike invalshoeke as plat komponente bied, so coatingvereistes moet die werklike optiese ontwerp weerspieël.

  • Anti-reflektiewe bedekkings
    Enkel- of meerlaag AR-bedekkings verminder weerkaatsing van deurlaatbare asferiese oppervlaktes oor 'n gedefinieerde golflengtereeks en invalstoestand.
  • Breëband AR Coatings
    Breëband AR-ontwerpe ondersteun beeldvorming, waarneming en analitiese stelsels wat oor 'n wyer spektrale interval werk. Werkverrigting word bevestig vir die geselekteerde substraat en oppervlakgeometrie.
  • Laser V-coatings
    V-bedekkings verskaf lae refleksie naby 'n gedefinieerde lasergolflengte. Die spesifikasie moet golflengte, AOI, polarisasie en toepaslike lasertoestande insluit.
  • Metaal reflektiewe bedekkings
    Aluminium-, silwer- of goudbedekkingstelsels kan oorweeg word vir af-as paraboliese en reflektiewe vryvormkomponente volgens golflengte, duursaamheid en omgewingsblootstelling.
  • Diëlektriese en Infrarooi Beskermende Bedekkings
    Beskrywing: Diëlektriese hoëreflektiewe bedekkings, infrarooi BBAR-bedekkings en beskermende opsies soos DLC kan geëvalueer word wanneer die substraat en bedryfsomgewing die ontwerp ondersteun.

Asferiese en vryvorm-optika-vervaardigingsproses

Die prosesroete word eers vrygestel nadat die optiese voorskrif, meganiese tekening, materiaal, coating en inspeksieplan saam hersien is. Prosesstappe verskil volgens substraat en geometrie, maar die volgende volgorde verskaf 'n tipiese projekraamwerk.

01

Tekening en voorskrifoorsig

Ingenieurswese kontroleer die vergelyking, datums, materiaal, opening, toleransies, bedekking, hoeveelheid en aanvaardingsmetode en los ontbrekende of botsende vereistes op.

02

Materiaal en Blank Voorbereiding

Die goedgekeurde materiaal word voorberei met inagneming van die optiese oppervlak, afgewerkte buitelyn, dikte, monteerkenmerke en hantering.

03

Oppervlakte generasie

CNC-slyp, bewerking of diamantdraai stel die voorlopige profiel vas en laat die beheerde toelae wat nodig is vir afwerking.

04

Fyn slyp en presisie poleer

Die oppervlak is verfyn om ondergrondse skade te verminder en die vereiste vorm, afwerking en bruikbare diafragma te benader.

05

Intermediêre Metrologie en Korreksie

Gemete profiel- of foutkaartdata word met die goedgekeurde voorskrif vergelyk, en korrektiewe verwerking word toegepas wanneer die materiaal en foutverspreiding dit ondersteun.

06

Rand en meganiese kenmerke

Deursnee, buitelyn, skuins en verwysingskenmerke word voltooi in verhouding tot die optiese oppervlak en gespesifiseerde datums.

07

Optiese Bedekking

Skoongemaakte komponente ontvang die goedgekeurde deurlaatbare, reflektiewe of beskermende deklaag met toepaslike maskering en toebehorebeheer.

08

Finale inspeksie en dokumentasie

Afmetings, oppervlakvorm, grofheid, oppervlakkwaliteit, sentrasie en deklaagprestasie word geverifieer volgens die ooreengekome plan voor vrystelling.

Asferiese en vryvormmetrologie en kwaliteitbeheer

Komplekse optiese oppervlaktes vereis meetmetodes wat ooreenstem met hul geometrie, opening, helling en toleransie. Inspeksiebeplanning begin tydens tekeninghersiening sodat die voltooide komponent en die aanvaardingsverslag dieselfde koördinaatstelsel en oppervlakdefinisie gebruik.
Vervaardigingsproses 3

Profiel- en vormmeting

Taylor Hobson LuphoScan 260 HD en Mahr LD 260 profielometrie-vermoëns kan profiel- of oppervlakvormmeting ondersteun vir geskikte komponentgeometrieë.
Asfere en vrye vorms2

Interferometriese toetsing met CGH

ZYGO interferometrie met 'n toepaslike CGH of toetskonfigurasie kan gebruik word vir gekwalifiseerde asferiese oppervlaktes wanneer die geometrie en diafragma die opstelling ondersteun.
Asfere en vrye vorms3

Oppervlaktopografie en grofheid

Nie-kontak 3D-oppervlakmetings en grofheidsevaluering kan uitgevoer word met geskikte optiese metrologie, met skanderingsarea en filtertoestande wat in die verslag gedefinieer word.
Vervaardigingsproses 4

Sentrasie en Datum Verifikasie

Optiese-as- of oppervlakverwantskappe word geëvalueer teen die voltooide meganiese deursnee, verwysingsoppervlak of monteringsdatum gespesifiseer op die tekening.
 
 
Vervaardigingsproses 2

Dimensionele inspeksie

Deursnee of buitelyn, dikte, randgeometrie, skuins, gate liggings en ander meganiese kenmerke word teen die goedgekeurde tekening gekontroleer.
 
 
 
Vervaardigingsproses 5

Oppervlak kwaliteit inspeksie

Skrape, grawe, putte, randdefekte, deklaagdefekte en kontaminasie word volgens die genoemde kosmetiese standaard en duidelike opening geëvalueer.
 
 
 
Proses 6

Deklaagverifikasie en dokumentasie

Transmissie of refleksie kan oor die ooreengekome spektrale reeks gemeet word, met dimensionele verslae, profieldata, interferogramme of bedekkingskurwes wat verskaf word wanneer dit by die projekvereistes ingesluit word.

Asferiese en vrye vormvervaardiging deur Band Optics

Band Optics ondersteun gemaak-vir-druk komplekse optiese komponente van aanvanklike tegniese hersiening deur prototipe produksie, coating, inspeksie en herhaal OEM vervaardiging. Die fokus is om die kliënt-gedefinieerde optiese oppervlak te verbind met 'n praktiese proses en 'n aanvaardingsmetode wat herhaal kan word.

Vervaardiging vanaf klantvoorskrifte

Oppervlakvergelykings, sakdata, CAD-geometrie, datums en toleransies word as een beheerde spesifikasie hersien voor produksievrystelling.

Veelvuldige prosesopsies

CNC generasie, slyp, polering, MRF en diamantdraai kan volgens substraat, geometrie, oppervlakafwerking en hoeveelheid geëvalueer word.
 

Materiaal- en Bedekkingskoördinering

Materiaalgedrag, golflengte, plaaslike invalshoek en omgewingsvereistes word in ag geneem wanneer die afwerking- en bedekkingsroete gekies word.
 

Prototipe en Herhaal Produksie Ondersteuning

Prototipe bouwerk stel gereedskap, toebehore, prosesinstellings en inspeksiemetodes vas wat vir loods- of herhalende OEM-bestellings behou kan word.
 

Geïntegreerde Metrologie Beplanning

Profielmeting, interferometrie, grofheidsinspeksie, sentrasie, dimensionele inspeksie en spektrale verifikasie word gekoördineer met die tekening-beheerde aanvaardingskriteria.

Verwante persoonlike optiese komponente

Asferiese en vryvormkomponente kan saam met ander vervaardigde-vir-druk-optika verskaf word wat in dieselfde beeld-, laser-, waarnemings- of analitiese stelsel gebruik word. Koördinering van substraat, coating, opening en meganiese datums oor verwante dele kan ontwerpkommunikasie en verskafferbestuur vereenvoudig.
10-verwante-komponente-01-pasgemaakte-optiese-lense

Pasgemaakte optiese lense

Sferiese, silindriese, achromatiese en ballense verskaf konvensionele fokus, een-as straalbeheer, chromatiese regstelling en kompakte optiese koppeling.
10-verwante-komponente-02-optiese vensters

Optiese Windows

Plat, ingewigde, beskermende en infrarooi vensters beskerm sensors of samestellings terwyl transmissie oor die vereiste spektrale reeks behou word.
10-verwante-komponente-04-optiese spieëls

Optiese spieëls

Plat, konkawe, konvekse en pasgemaakte spieëls herlei of fokus lig met behulp van metaal- of diëlektriese reflektiewe bedekkings wat vir die werkende band gekies is.
 
10-verwante-komponente-03-optiese prismas

Optiese prismas

Beeldvorming, verspreiding, stuur en homogenisering van prismas beheer straalrigting, beeldoriëntasie, spektrale skeiding of beligtingsverspreiding.
 
10-verwante-komponente-07-optiese samestellings

Pasgemaakte optiese samestellings

Gemonteerde optika en multi-element samestellings kombineer komponente binne 'n gedefinieerde meganiese koppelvlak en kan belyning en funksionele inspeksie vereistes insluit.

Gereelde vrae oor persoonlike optiese lense

  • V Watter tipes asferiese en vryvormoptika vervaardig Band Optics?

    A Band Optics vervaardig rotasie-simmetriese asferiese lense, infrarooi asfere, off-as paraboliese spieëls en nie-rotasie-simmetriese vryvorm optiese komponente. Die beskikbare vervaardigingsroete hang af van die oppervlakgeometrie, materiaal, opening, afwerking, bedekking en inspeksievereistes.

  • V Watter inligting word benodig om 'n pasgemaakte asferiese optiek aan te haal?

    A  Verskaf die tekening en oppervlakvoorskrif, insluitend eenhede, basisradius, kegelkonstante, polinoomkoëffisiënte of sakdata, materiaal, deursnee of buitelyn, dikte, duidelike opening, oppervlakvorm, oppervlakkwaliteit, grofheid, bedekking, hoeveelheid en aanvaardingsmetode.

  • V Kan jy van 'n CAD-model of saktafel vervaardig?

    'n CAD-geometrie, saktabelle en puntdata kan langs die beheerde tekening hersien word. Die koördinaatoorsprong, as-oriëntasie, eenhede, tekenkonvensie, datums en die dokument wat aanvaarding reguleer, moet duidelik geïdentifiseer word.

  • V Watter materiale is beskikbaar vir infrarooi asferiese lense?

    'n Handboek-gelyste opsies sluit in ZnSe, ZnS, silikon en CaF2, tesame met optiese glas en saamgesmelte silika vir ander spektrale vereistes. Materiaalkeuse hang af van golflengte, termiese toestande, geometrie, afwerking en deklaagversoenbaarheid.

  • V Kan Band Optics off-as paraboliese spieëls vervaardig?

    A Ja, off-as paraboliese spieëls is ingesluit in die maatskappy se vermelde produk vermoëns. 'n Aanhaling moet die moederbrandpuntafstand, af-asafstand of -hoek, opening, substraat, oppervlakvereistes, bedekking en meganiese datums definieer.

  • V Hoe word asferiese en vryvorm-oppervlaktes geïnspekteer?

    'n Inspeksie kan profielmeting, interferometrie met 'n toepaslike CGH of toetsopstelling, nie-kontakoppervlaktopografie, ruwheidsmeting en dimensionele of sentrasie-inspeksie gebruik. Die finale metode moet ooreenstem met die komponent meetkunde en tekening.

  • V Kan jy prototipes ondersteun voor herhaalde produksie?

    A Ja. 'n Prototipe kan die gereedskap, toebehore, prosesroete, bedekkingsmetode en inspeksie-opstelling vasstel. Nadat die voorskrif- en aanvaardingskriteria goedgekeur is, kan dieselfde beheerde inligting loods- en herhalende OEM-produksie ondersteun.

  • V Wat bepaal die haalbare toleransie en komponentgrootte?

    A Haalbare grootte en toleransie hang af van materiaal, opening, oppervlakafwyking, plaaslike helling, dikte, randgeometrie, laag en metingstoegang. Omdat amptelike Band Optics-bronne tans verskillende asferiese deursnee-reekse toon, moet die vereiste grootte deur ingenieursoorsig bevestig word eerder as om op een universele limiet staat te maak.

Dien jou asferiese of vryvorm optiese vereistes in

Vertel ons watter asfere en vrye vorms jy benodig en hoe ons jou kan kontak. 

INLIGTING OM TE SLUIT IN:

Komponenttipe, materiaal, oppervlakvergelyking, sakdata of CAD-model, deursnee of buitelyn, dikte, golflengte, oppervlakvorm, grofheid, deklaag, hoeveelheid en inspeksievereistes.

Indien 'n tekening, voorskrif of toetsvereiste beskikbaar is, meld dit in die vereistes. Band Optics sal per e-pos opvolg om die lêer te bekom en vervaardigbaarheid te bevestig.
Ons het 'n hoogs bekwame span wat voortgaan om innoverende nuwe produkte te ontwerp en koste-effektiewe oplossings te skep om aan spesifikasies, tydlyne en begrotings te voldoen.
KONTAKINLIGTING
Tel: +86-159-5177-5819
Adres: Industrial Park, No. 52 Tianyuan East Ave. Nanjing City, 211100, China

VINNIGE SKAKELS

PRODUK KATEGORIE

Teken in op ons nuusbrief
Promosies, nuwe produkte en verkope. Direk na jou inkassie.
Kopiereg © 2025 Band Optics Co., Ltd. Alle regte voorbehou ｜ Werfkaart  |   Privaatheidsbeleid